X Ray
Diffraction

La diffrattometria dei raggi X (XRD – X Ray Diffraction) è una tecnica di monitoraggio minimamente invasiva che trova un’importante applicazione per la determinazione dello stato tensionale del sistema di armatura di strutture in CAP. La misura dell’angolo di diffrazione è strettamente correlato al valore degli sforzi presenti nella zona di misura.

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La normativa di riferimento della suddetta tecnica è la EN15305:2008 “Non-destructive Testing – Test method for residual stress analysis by X-Ray Diffraction”.
L’apparecchiatura in dotazione al Centro SISCON viene montata su appositi supporti per permettere la sospensione del dispositivo anche sotto la soletta di ponti, ossia nei punti maggiormente significativi per la caratterizzazione dell’elemento strutturale. Previa rimozione del copriferro e della guaina di protezione, il tempo richiesto per la misura dello stato tensionale è quantificabile in circa 10/15 minuti.

Prove di resistenza - X Ray Diffraction
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